快速且功能强大 

• 释放了新一代用于高速和高灵敏度数据采集CMOS-EBSD的能力                    
• 实时采集、处理和显示高速数据
• 利用64位处理的强大能力和多任务处理软件，在数据采集过程中，即可与您的数据交互

易用性

• 系统设置和数据采集的导航流程，每个人每次能得到更正确的结果
• 智能工具，如自动校正背底，提高样品结果的准确性

灵活性

• 专家可通过调整设置来解决困难的应用
• 使用功能强大的重新分析工具，对采集后的数据进行优化
• 在可定制的报告中展示数据和结果

创新性

• Tru-I®算法，以获得更多准确标定的电子背散射花样
• EBSD和EDS的同步分析，包括利用EDS数据来区分相似的晶体结构
• 高角度分辨率模式提供了出色的角度分辨率0.05°
• 标配强大的功能，如TKD标定模式和用于高级数据分析的模块
• 正在申请专利