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碳膜上的金颗粒的尺寸分布在2-9nm。精细分散的薄金颗粒比单晶金箔更适合在TEM中高分辨率成像。与金箔一样，精细分散的薄金颗粒也很适合校正图像质量、放大倍率和仪器稳定性。但这种金颗粒标样在分辨率校正方面更有优势，因为它可以在静态或低倾斜样品台上提供晶体取向选择。此外，晶体材料的厚度很容易从金晶体的投影形状计算出来。适用于FEI，JEOL和Hitachi等所有透射电镜。