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SEM锡球颗粒标样10nm-100nm,分辨率测定标样

销售价
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货品编号:AGS1967
品牌:Agar Scientific
标样样品台:
12.5mm钉形样品台
10mmJEOL样品台
Hitachi M4样品台
不带样品台
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商品介绍
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【产品详情】

 此碳基底锡球标样中,锡球颗粒尺寸范围为10nm - 100nm,非常适合于进行象散校正。适用于场发射扫描电镜、台式扫描电镜和高倍率光学显微镜,锡球颗粒比金颗粒更适合于检测背散射电子分辨率。

 

      


【规格详情】

标样

粒径分布

锡球颗粒标样

10nm-100nm


备注:1.为避免污染测试和校准样品,建议将其存放在真空或干燥无尘环境。
          2.为确保产品质量及外观完整性,避免标样污染或表面划痕的产生,请勿直接触摸或擦拭产品表面。任何不当接触均可能导致不可逆的损伤,影响产品性能。

【温馨提示】

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