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此单晶取向金标样为负载于金网上的高取向超薄单晶金箔，可通过晶面间距0.204nm（200晶面），0.143nm（220晶面）和0.102nm校正检测TEM的分辨率、成像质量、放大倍率和高倍率下的稳定性，尤其适用于TEM样品阶梯上的高度调整。